Ø型号：電鏡-FEI Nova nano雪玩SEM450（美國FEI公司）/能(néng)譜-X-Max5到行0（英國牛津儀器(qì)公司）/EBSD-Nordlys Max（英銀廠國牛津儀器(qì)公司）

Ø 性能(néng)指标：電鏡二次電子(zǐ業愛)分(fēn)辨率：0.8nm（30KV）；加速電壓：0.5kV廠南~30kV；放(fàng)大倍數：35-900,000倍；能(néng)譜分哥國(fēn)辨率123eV（Mn Ka）。

Ø主要功能(néng)：能(néng)做各種固态樣品表面形貌的二次電子(zǐ)像厭路，背散射電子(zǐ)像觀察及圖像處理(lǐ)；配備有X射線能(né會村ng)譜儀，可以進行樣品表層的微區（點、線、面）的定新鐵性、半定量和定量分(fēn)析；同時(sh上機í)配備EBSD，可以進行取向和取向差異的測話腦量、微織構分(fēn)析、相鑒定、應變和真微一實晶粒尺寸的測量。